Анализатор профиля луча BeamMaster

BeamMaster использует для получения информации о профиле луча сочетание сканирующей шторки, пересекающей и затеняющей луч, с фотодиодом. За один скан, шторка пересекает луч семь раз в различных направлениях, обеспечивая высокую точность и достоверность реконструкции профиля луча. Подобная методика помогает получить очень высокое разрешение (до 0.1 мкм) и измерять лучи до 3 мкм в диаметре. Диапазон спектральной чувствительности определяется диапазоном фотодиода, и может составлять 190-1100 нм (кремниевый фотодиод) или 800-1800 нм (арсенид галлия). Система способна измерять профиль и ширину луча, эллиптичность и позицию центроида, мощность излучения, осуществлять подгонку гауссианом. Имеется несколько режимов визуализации, возможность записи в файл, интерфейс RS-232 для внешнего управления.

Предел насыщения по мощности излучения - 20 Вт/см2 (0.1 Вт/см2 без фильтра)

Скачать подробное описание в pdf-формате...